一、设备名称：冲击试样缺口投影仪 

二、型    号：CST-50

三、性能说明：

CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据美标ASTME23-18《金属材料缺口试样标准冲击试验方法》中夏比试验（简支梁）和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。

四．方案描述：

本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再以物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。 根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰地投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。将被测度样放在工作台上，旋转工作台升降手轮，调焦至影像清晰，再调整圆工作台和纵横向调节手轮，使已放大了50倍的试样V型（或U型）缺口投影图与本仪器所提供的也放大了50倍的冲击试样缺口标准尺寸图对比，即判断出冲击试样V型（或U型）缺口的几何尺寸加工质量。